Оптический диаметр: |
6.0 мм |
Общий диаметр: |
11.0 мм |
Угол наклона гаптик: |
0° |
Конструкция линзы: |
моноблочная MICS |
Размер разреза: |
≥ 1.8 мм |
А-константа: |
117.8 |
Имплантация: |
заднекамерная |
Диоптрийность/аддидация: От 0,0 до +32,0 D (шаг 0,5 D) / +3,75D
Применение: Стандартная катаракта
Оптическая конструкция: Мультифокальная, асферическая, рефракционно-дифракционная
Материал: гибкий гидрофильный акрил с гидрофобными свойствами поверхности (содержание влаги в материале – 25%). Полный UV-фильтр (для UV-A, UV-B, UV-C)
Уникальные особенности линзы - AT LISA®:
L • Light distributed asymmetrically between distant (65%) and near focus (35%) for improved intermediate vision and greatly reduced halos and glare
Ассиметричное распределение света между дальним фокусом (65%) и ближним фокусом (35%) для улучшения зрения на среднее расстояние и уменьшения световых бликов
I • Independency from pupil size due to high performance diffractive- refractive microstructure covering the complete 6.0 mm optical diameter
Независимость от размера зрачка благодаря высокотехнологичной дифракционно-рефракционной микроструктуры, полностью покрывающей всю оптическую поверхность линзы
S • SMP technology for a lens surface without any sharp angles for ideal optical imaging quality with reduced light scattering
Уникальная технология изготовления поверхности линзы без острых углов для качественного идеального оптического изображения с минимальной потерей света
A • Aberration correcting optimized aspheric optic for better contrast sensitivity, depth of field and sharper vision
Асферическая оптика, коррегирующая аберрации, для лучшей контрастной чувствительности, глубины и остроты зрения
SMP технология оптической поверхности линзы
SMP-технология (smooth micro phase) – это уникальная всемирная запатентованная технология для создания поверхности линзы.
Поверхность линзы не имеет квадратных кромок или правильных углов, зубчатой структуры, что гарантирует идеальное качество оптического изображения без потери света, отражений, отсутствие рефракционных ошибок